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04
2026
-
08
基于白光干涉仪(White Light Interferom...
摘要超光滑工件(Ultra-smooth Workpiece)是半导体晶圆、精密光学基底、微机电系统(Micro-Electro-Mechanical Syste...
基于白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)大视场全域检测的超光滑工件工艺缺陷甄别研究
04
2026
-
08
光学轮廓测量在高压加氢反应器密封件平面度检测中的应用
高压加氢反应器(High-pressure Hydrogenation Reactor)是石化加氢装置核心承压设备,密封件平面度(Flatness)是保障高压介质...
光学轮廓测量在高压加氢反应器密封件平面度检测中的应用
03
2026
-
08
高压加氢反应器密封件平面度(Sealing Part Fla...
高压加氢反应器(High-pressure Hydrogenation Reactor)是石油化工加氢装置的核心承压设备,其端面密封件的平面度直接决定设备密封性能...
高压加氢反应器密封件平面度(Sealing Part Flatness)的光学轮廓测量研究
03
2026
-
08
BGA 封装 三维形貌 (3D Morphology)成型...
摘要球栅阵列封装(BGA, Ball Grid Array)焊球三维形貌异常是制约半导体封装量产良率的核心隐患。行业主流依托白光干涉仪(WLI, White Li...
BGA 封装  三维形貌 (3D Morphology)成型缺陷,白光干涉仪严控封装量产 (Packaging Mass Production) 品质
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